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用于三维集成半导体制造中埃米尺度精度的原子层加工
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摘要:
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随着半导体技术节点持续缩小,技术发展日益与单纯的尺寸缩小脱钩,转向新型器件架构、既有工艺范式的迁移,以及对前所未有的工艺精度的要求,关键功能层对膜厚、材料和界面的原子级与亚纳米级控制提出了更高要求。本文介绍了原子层加工(ALP)这一融合原子层沉积、原子层刻蚀和区域选择性沉积的统一框架,总结了其基于自限制表面反应实现原子级厚度、组分和选择性控制的技术优势,以及其在复杂三维结构无空洞薄膜形成、高精度选择性图形化和材料与界面原子尺度调控中的应用。进一步梳理了ALP通过沉积、刻蚀与选择性的一体化,为突破传统几何和材料缩放限制提供的工艺路径,并阐述其向原子级精密制造范式转变的潜力。
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